ST3DV520E Просмотр технического описания (PDF) - STMicroelectronics

Номер в каталоге

Компоненты Описание

Список матч

ST3DV520E

MUX/DEMUX for 4 differential channel LVDS and DDC

STMicroelectronics 

Electrical characteristics

Figure 5. Test circuit for SEL pin input capacitance (CIN)

ST3DV520E

1, 2

Figure 6. Test circuit for switch off capacitance (COFF)

1

10/19

Doc ID 18318 Rev 1

Share Link: